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比表面又稱(chēng)比表面積，系指1g固體物質(zhì)所具有的表面積，它包括內(nèi)表面積和外表面積之和，常用符號(hào)SA來(lái)表示，單位為m2/g，它是表征固體性能的重要的物化參數(shù)之一。1、比表面測(cè)試儀作為化學(xué)、機(jī)械、電子、軟件等綜合的分析儀器，沒(méi)有長(zhǎng)久的實(shí)際客戶現(xiàn)場(chǎng)實(shí)用經(jīng)驗(yàn)積累和信息反饋，就很難有可信賴(lài)的質(zhì)量穩(wěn)定性保證，就無(wú)法保證后期實(shí)驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性與比表面測(cè)試儀穩(wěn)定性。所以，選型要素一就是選擇具有長(zhǎng)期研發(fā)生產(chǎn)歷史和具有長(zhǎng)期使用客戶的正規(guī)廠家的產(chǎn)品。2.優(yōu)良的性?xún)r(jià)比。不必要為用不著的功能花錢(qián)。在產(chǎn)品質(zhì)量...

TPR法可表征催化劑存在還原成份的數(shù)目和還原反應(yīng)發(fā)生的溫度。TPR法一般要求催化劑是一種氧化物，即含有能被還原出的金屬元素，由反應(yīng)氣與載氣混合而成的混合分析氣流過(guò)樣品，當(dāng)樣品溫度線性變化時(shí)，反應(yīng)氣會(huì)被消耗掉，從而造成混合氣的成份改變，從而顯示在TPR譜圖上，通過(guò)計(jì)算峰的面積，便可以求出氫氣消耗量。TPR表征催化劑的還原性質(zhì)，得到金屬與載體相互作用的強(qiáng)弱、金屬在載體上的存在狀態(tài)，可以判定多金屬催化劑中助劑對(duì)金屬與載體間相互作用的影響，金屬組分間的相互作用，以及金屬間是否發(fā)生了聚...

為了闡明催化劑在催化過(guò)程中的作用本質(zhì)及反應(yīng)分子與其作用的機(jī)理，必須對(duì)催化劑的吸附性質(zhì)（吸附中心的結(jié)構(gòu)、吸附分子在吸附中心上的吸附等）和催化性能進(jìn)行深入研究，這樣才能捕捉到?jīng)Q定催化過(guò)程的信息。動(dòng)態(tài)分析技術(shù)（程序升溫技術(shù)）作為一種原味表征技術(shù)，可以在反應(yīng)或接近反應(yīng)的條件下有效的研究催化過(guò)程，而化學(xué)吸附儀是一款用于動(dòng)態(tài)程序升溫研究的重要儀器，它能夠?qū)π迈r催化劑進(jìn)行程序升溫脫附（TPD)，程序升溫還原（TPR）、程序升溫硫化（TPS)、程序升溫表面反應(yīng)（TPSR)、和單點(diǎn)BET等研究...

全自動(dòng)真密度儀原理應(yīng)用阿基米德原理—?dú)怏w膨脹置換法，利用小分子直徑的惰性氣體（He）在一定條件下的玻義爾-馬略特定律（PV=nRT），通過(guò)測(cè)定由于樣品測(cè)試腔放入樣品所引起的樣品測(cè)試腔氣體容量的減少來(lái)精確測(cè)定樣品的真實(shí)體積，從而得到其真密度，真密度=質(zhì)量/真實(shí)體積。圖31真密度儀工藝原理流程圖氣體膨脹置換法是以氣體取代液體測(cè)定樣品所排出的體積。此法排除了浸液法對(duì)樣品溶解的可能性，具有不損壞樣品的優(yōu)點(diǎn)。因?yàn)闅怏w能深入樣品中極小的孔隙和表面的不規(guī)則空陷，因此測(cè)出的樣品體積更接近樣品...

密度測(cè)量方法表21各種密度測(cè)量原理及測(cè)量方法統(tǒng)計(jì)表密度種類(lèi)真實(shí)密度表觀密度體積密度堆積密度松裝密度振實(shí)密度測(cè)量方法氣體置換法（排氣法）氣體置換法（排氣法）汞置換法（排液法）漏斗法振動(dòng)法比重瓶法（排液法）比重瓶法（排液法）蠟封法（排液法）振動(dòng)漏斗法浸漬法（排液法）浸漬法（排液法）斯柯特容量計(jì)法懸吊法（排液法）懸吊法（排液法）測(cè)量原理阿基米德原理阿基米德原理阿基米德原理表22關(guān)于密度測(cè)量的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)比表序號(hào)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)代號(hào)標(biāo)準(zhǔn)中文名稱(chēng)標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)測(cè)試原理1EJ/T898-1994二氧化鈾...

耐電弧試驗(yàn)儀采用光耦隔離方式，能同時(shí)配置TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù)，起到對(duì)控制系統(tǒng)的防護(hù)；自主開(kāi)發(fā)的多級(jí)循環(huán)電壓采集方式也能大大提高目前電弧試驗(yàn)普遍采用手動(dòng)及干擾狀態(tài)下電壓及電流采集的方式；低通濾波監(jiān)測(cè)技術(shù)的運(yùn)用使得該儀器的試驗(yàn)精度不再受電磁干擾；電容性屏幕的設(shè)計(jì)，使得儀器實(shí)現(xiàn)同時(shí)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行保存和分析，操作更為人性化?，F(xiàn)場(chǎng)的工作人員還告訴我們這款儀器是專(zhuān)門(mén)為電氣絕緣材料測(cè)試開(kāi)發(fā)的高精尖設(shè)備，適用于電氣絕緣材料、塑料、薄膜、樹(shù)脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等絕緣材料的耐電弧性能評(píng)定，...

空隙率空隙率（voidfraction）是指散粒材料在自然堆積狀態(tài)下，其中的空隙體積與散粒材料在自然狀態(tài)下的體積之比的百分率。依據(jù)圖12，多孔顆?？障堵实谋磉_(dá)公式為：εB=(V空+V開(kāi))/(V空+V固+V開(kāi)+V閉)實(shí)心顆?？障堵实谋磉_(dá)公式為：εB=V空/(V空+V固+V開(kāi)+V閉)εB—顆粒材料的空隙率，%；V開(kāi)—多孔顆粒開(kāi)口孔隙所占的體積，m3，V閉—多孔顆粒閉口孔隙所占的體積，m3。V固—實(shí)心顆粒所占的體積或多孔顆粒固體骨架部分所占的體積，m3。V空—實(shí)心顆?；蚨嗫最w粒之間...

孔隙率孔隙率（porosity）是指多孔材料中孔隙體積與自然狀態(tài)下的體積之比的百分率。此處的孔隙體積是指多孔材料內(nèi)部的開(kāi)口孔隙和閉口孔隙，即針對(duì)材料內(nèi)部孔、洞而言，不涉及顆?；蚍勰┎牧现g的空隙，區(qū)別在于內(nèi)部“孔”和粒間“空”。孔隙率的表達(dá)公式為：εp=(V開(kāi)+V閉)/(V固+V開(kāi)+V閉)εp—多孔材料的孔隙率，%；V開(kāi)—多孔顆粒開(kāi)口孔隙所占的體積，m3，V閉—多孔顆粒閉口孔隙所占的體積，m3。V固—實(shí)心顆粒所占的體積或多孔顆粒固體骨架部分所占的體積，m3?？紫堵视址譃殚_(kāi)口孔...